书目详细信息
： Scanning electron microscopy / 1979 / I :
书目信息 机读格式(MARC)
| 个人名称： | Johari, Om |
|---|---|
| 题名： | Scanning electron microscopy / 1979 / I : an international review of advances in techniques and applications of the scanning electron microscope part 1 / ed. by Om Johari. |
| 出版发行项： | AMF O'hare ： Scanning Electron Microscopy, 1979 |
| 载体形态： | 598 p．： illus. |
| 书目附注： | Includes bibliographical ref.& ind. |