书目详细信息
： Scanning electron microscopy / 1978 :
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| 题名： | Scanning electron microscopy / 1978 : An internaitonal review of advances in instrumentation, techniques, theory and physical applications of the scanning electron microscope. v.1 / ed. by Om Johari. |
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| 出版发行项： | USA ： Scanning Electron Microscopy, Inc., 1978. |
| 载体形态： | 898p．： illus. |
| 书目附注： | Includes bibliographical ref.& ind. |