书目详细信息
： Scanning electron microscopy / 1978 :
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| 题名： | Scanning electron microscopy / 1978 : An international review of advances in instrumentation, techniques, theory and physical applications of the scnning electron microscopy. v.2 / ed. by Om Johari. |
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| 出版发行项： | USA ： Scanning Elecron Microscopy, Inc., 1978. |
| 载体形态： | 1134p．： illus. |
| 书目附注： | Includes bibliographical ref.& ind. |