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： Scanning electron microscopy / 1979 / II :
书目信息 机读格式(MARC)
| 题名： | Scanning electron microscopy / 1979 / II : an international review of advances in techniques and applications of the scanning electron microscope part II / ed. by Om Johari. |
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| 出版发行项： | AMF O'Hare ： Scanning Electron Microscopy, Inc., 1979. |
| 载体形态： | 910p．： illus. |
| 书目附注： | Includes bibliographical ref.& ind. |