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： Scanning electron microscopy /1979 / III :
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| 题名： | Scanning electron microscopy /1979 / III : an internaitonal review of advances in techniques and applications of the scanning electron microscope part III. / ed. by Om Johari. |
|---|---|
| 出版发行项： | AMF O'Hare ： Scanning Electron Microscopy, Inc., 1979. |
| 载体形态： | 1000p．： illus. |
| 书目附注： | Includes bibliographical ref.& ind. |